Курс повышения квалификации для учителей «Сканирующая зондовая микроскопия»

Курс повышения квалификации для учителей «Сканирующая зондовая микроскопия»

Курс повышения квалификация рассчитан на учителей общеобразовательных организаций.

Для преподавателей школ г. Обнинска он бесплатный. В рамках программы ДПО могут присоединиться учителя из других регионов*. Срок занятий — 1,5–2 месяца.

Вся занятия проходят в Яндекс Телемост. Записи занятий и материалы курса будут в открытом доступе на Яндекс.диске.

По итогам курса вы получаете удостоверение о повышении квалификации установленного образца, выданное физическим факультетом МГУ имени М.В. Ломоносова.

Занятия будут проходить в прямом эфире по воскресениям, продолжительность 2,5 – 3 часа: лекции и практические занятия +домашние задания.

Контрольные даты:

До 4 апреля — запись на курс, заполнение формы в Яндекс диске

6 апреля — Занятие №1.

13 апреля — занятие №2

20 апреля — занятие №3

4 мая — занятие №4

11 мая — зачет (презентация итоговых работы)

24 либо 31 мая экскурсия на физический факультет, получение удостоверений об окончании курса

Группа в телеграме

https://t.me/+vXyxs5i9QCZmZGFi

Формы для подачи заявки на курс

https://forms.yandex.ru/u/67e2837590fa7b261701abb6/

Темы курса

1.1 Введение. Принципиальная схема СЗМ. Система позиционирования. Зонд и система определения его состояния. Система обратной связи.

1.2 Сканирование поверхности: с использованием обратной связи, без использования обратной связи.

1.3 Общая методика измерений. Подготовка образца и настройка микроскопа. Измерение поверхности и подстройка параметров измерений.

Обработка результата и интерпретация полученных данных. Метрология и калибровочные меры.

1.4 ТЕРМИНОЛОГИЯ: кантилевер, зонд, держатель, головка, столик

СЗМ ФЕМТОСКАН: общий вид, механическая часть, электронный блок, сканирующие головки, атомно-силовая микроскопия, туннельная микроскопии.

1.5 ПРИНЦИПИАЛЬНЫЕ СХЕМЫ МИКРОСКОПА ПРИ РАБОТЕ В РАЗЛИЧНЫХ РЕЖИМАХ

Атомно-силовая микроскопия
Резонансная атомно-силовая микроскопия
Сканирующая капиллярная микроскопия
Туннельная микроскопия

Клиентская программа FemtoScan Online
Панель инструментов управления микроскопом

c.. Окно параметров сканирования — основное рабочее окно

Основные режимы работы микроскопа
Запуск процессов сканирования
Основные операции работы с изображениями
Цветовые шкалы
Усреднение по строкам

iii. Выравнивание поверхности

Применение различных фильтров

Исследование вирусов

Вирусы растений как средство доставки для вакцины
Х вирус картофеля
Вирус табачной мозаики и калибровочные эталоны
Вирус мозаики альтернантеры
Характеризация вирусов по данным АСМ и ПЭМ
Вирус гриппа А
Вирус клещевого энцефалита

Исследование бактерий и грибов

Исследование влияния биоцидных веществ на бактерии и грибы

Staphylococcus aureus,

Staphylococcus epidermidis,

Neisseria flavescens,

Pseudomonas aeruginosa,

Candida albicans,

Aspergillus niger

Fusarium gr.

E.coli и др.

Определение параметров бактериальных клеток: характер адсорбции на подложке, количество клеток в поле зрения, определение средней и максимальной высоты, средней и среднеквадратичной шероховатости, геометрических размеров клеток в колонии и отдельно расположенных

Исследование клеток

Сканирующая капиллярная микроскопия в исследовании живых систем
Эритроциты, эхиноциты, акантоциты по данным АСМ и СКМ
Опухолевые клетки: исследование влияние цитотоксических веществ цисплатина и нокодазола на морфологию клеток

*Стоимость в данном случае составит 10 000 руб.